Модульные инвертированные системные микроскопы исследовательского класса Leica DM I 3000 M, Leica DM I 5000 M идеальны для проведения проверок и исследований объектов во всех областях анализа материалов от промышленной микроэлектроники и металлографии до научных исследований материалов.
Представляем Вашему вниманию производителя оборудования, расходных материалов, систем и решений для осмотра места преступления и исследования собранных улик - компанию "Scenesafe", Великобритания.
Приглашаем посетить неш стенд на главном событии лабораторной индустрии - VIII международной выставке LABComplEX, которая пройдет 20-22 октября 2015г. в выставочном центре "КиевЭкспоПлаза", ул. Салютная 2-Б, павильон №3